半導體製程
我們的模擬光源與量子效率光譜分析工具可應用於晶圓、封裝、模組等各種測試階段，協助半導體製造商提升產品良率並提高生產效率。
材料研究
我們的工具可用於光學材料、半導體材料等的研究與開發，協助研究人員探索新材料與新技術。
按照我們的價值觀行事，即誠實並信守我們對客戶的承諾。
我們投入時間和精力進行研發，為客戶提供最集成、最新的解決方案。
毅力和決心是取得成就的先決條件。不斷突破是我們的終極目標。
我們的模擬光源與量子效率光譜分析工具可應用於晶圓、封裝、模組等各種測試階段，協助半導體製造商提升產品良率並提高生產效率。
我們的工具可用於光學材料、半導體材料等的研究與開發，協助研究人員探索新材料與新技術。
我們的模擬光源與量子效率光譜分析工具可用於航空航太器件的測試，協助航空航太製造商提高器件的性能和可靠性。
我們的工具可用於測試汽車電子元件，如車載攝影模組和雷達，協助汽車製造商提升車輛的安全性、舒適性和性能。
我們的工具可用於測試各種光電子元件，協助電子元件製造商提高產品的品質和可靠性。
光焱科技一直致力於技術創新，不斷提高我們的研發投入，並開發出更多創新的矽光子與光電子晶片測試解決方案。我們的團隊由經驗豐富的工程師組成，擁有深厚的矽光子與光電晶片測試領域的技術積累。
我們也致力於為客戶提供卓越的服務，以滿足他們各種不同的需求。我們的客戶服務團隊隨時準備提供銷售過程中的技術支援和服務。
臺灣認證基金會（TAF）是臺灣唯一的國際互認級認證單位。TAF 認證通過評估國際標準和標準（ISO/IEC 17025），承認和促進組織在提供特定類型的認證、校準、測試、檢查和能力測試專案服務的能力。Enlitech獲得 ISO / IEC 17025 的 TAF 證書，不僅提供太陽能電池光譜響應領域的校準服務，而且還確保實驗室的能力高於特定水準。此外，光焱科技不斷提高服務品質，為我們的客戶提供更滿意的服務。
Enlitech 堅持誠信為本，追求卓越，銳意創新，為客戶提供最優的解決方案。成立 「Enlitech 實驗室」後，Enlitech 致力於建立 ISO 17025:2005 質量體系，並獲得校準實驗室。
2012 年 3 月在太陽能電池光譜響應 / 量子效率領域獲得 ISO / IEC 17025 (TAF) 認證。
光焱科技，不只研發生產測量科學儀器，擁有影像感測/半導體領域測試系統，提供R&D技術整合解決方案，另外還有ISO/IEC 17025 (TAF) 校正實驗室認證服務。
憑藉我們的強大技術實力、高品質產品和服務以及良好的發展前景，光焱科技已成為矽光子與光電子晶片測試領域的領先企業。
未來，光焱科技將繼續努力，為全球客戶提供更優質的產品和服務，推動矽光子與半導體光電子晶片產業的發展．
| 應用 | 矽光子晶片 | 光電子晶片 |
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