SPD2200 商用級SPAD單光子雪崩二極體效率整合型測試儀

描述

SPD2200整合了所有先進光學與電學系統，搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經驗，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。SPD2200可幫助您節省系統搭設的時間成本，並降低測試結果的不確定性。加快產品的開發週期，提升產品的競爭力。

光焱新型單光子偵測器特性分析設備SPD2200，因直接整合光學及電學系統，具有體積小，可在原生產廠商生產線上快速搭建之優勢，且軟硬體結合效果，可有效節省開發SPAD開發時RD人力成本，並大幅減少測試結果不確定性以提升良率，在各家廠商加速開發光達所需的SPAD晶片競賽中，成為重要關鍵研究設備。

光焱科技的SPD2200將所有量測所需軟硬體整合為整合型設備，對照傳統過往研究人員在光學桌自行搭建量測設備，
對於空間的使用性更為妥善，也為高精密度的量測設備元件提供更好保護，達成更精準的量測。

光焱科技全新打造的SPD2200是針對全球第一台最新型商用級針對單光子偵測器（SPD, Single Photon Detector）的特性測試分析設備。

可應用於開發Lidar(光達)中重要的零組件SPAD（Single Photon Avalanche Detector）單光子雪崩二極體的特性測試分析設備，滿足客戶在開發dTof模組所需量測各種參數。

SPD2200共有(1)全光譜特性測試模組(SDTM) 與 (2)時域特性測試模組(TDTM)兩種模組，可針對不同量測場景選購使用，也可同時兼被兩種模組，進行全方面完整量測。

可檢測參數
全光譜性能測試	SPAD的單光子辨析特性分析
全光譜光譜響應（SR, Spectral Responsivity）	時基抖動特性 (Jitter)
全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）	Afterpulsing probability
全光譜光子探測率（PDP, Photon Detection Probability）	擴散尾態 (Diffusion Tail)
暗計數DCR （Dark Count Rate）	SNR
崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

(1)SDTM全光譜特性測試模組設備規格

SDTM全光譜特性測試模組設備規格	連續波長光源	穩定燈源系統(氙燈) 單色光產生器： 350-1100 nm，解析度為1nm，典型半寬為10 nm；0.6nm 精度光纖耦合與光學均相器： 5×5 mm or 10×10 mm 光束，在25 mm 工作距離下的均勻性>99%。（@50 mm x 50 mm 光點）
	光源與光束傳遞裝置系統	超高均勻矽光電二極體感測器，有效面積為10mm x10 mm，經光老化處理，消除不穩定性波長範圍350-1100nm，峰值為960nm 經認證的校準報告，可追溯至NIST（ISO 17025認證，符合規範1）雜訊等效功率為1.5 x 10^-14W/√赫茲
	源錶	器件偏壓與量測電壓範圍: > 200V 電流範圍: 1.5A max. 最小解析度: 100 nV , 10 fA
	光子計頻器	解析度: 100 ps 計頻速率: > 300 MHz 輸入電壓範圍: ± 5V
	可量測參數	全光譜光子探測率暗計數全光譜量子效率崩潰電壓全光譜光譜響應

(2)TDTM時域特性測試模組

TDTM時域特性測試模組	PS Laser	波長 940 nm FWHM <90 ps MAX rep. rate: 80 MHz (可調)
	T-counter	Detection Channel: 4 Chs BIN Resolution: 5 ps 時間標記與時間解析模式
	可量測參數	時基抖動特性 (Jitter) 擴散尾態 (Diffusion Tail) 信噪比

選配	探針台	三種款式: 全自動 / 半自動 / 手動適合晶圓級樣品量測規格請洽光焱專業人員討論之
	客製化測試治具	適合模組型態樣品量測規格請洽光焱專業人員討論之
	客製化暗箱	暗箱具備雜訊屏蔽功能規格請洽光焱專業人員討論之

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