Previous slide
Next slide

繁體中文    English

CMOS影像感測器（CMOS Image Sensor, CIS）

如何精準找出CIS影像晶片缺陷：透過量子效率光譜解析常見的4種製程缺陷

•
2023 年 8 月 18 日

繁體中文 English (英語) 如何精準找出CIS影像晶片缺陷：透過量子效率光譜解析常見的4種製程缺陷 本 […]

, , ,
Facebook Twitter Linkedin Youtube Weixin

光焱總部

(821011)高雄市路竹區路科五路 96 號 1 樓

郵箱：qeservice@enli.com.tw

電話：+886-7-6955669

上海子公司

(201203)上海市浦东新区张江镇祖冲之路1505弄100号3幢2A室

電話：+86-21-31338780

支援