Rise time / Fall time 測試
頻率響應測量
光強線性度測試(6量級)
Frequency-Noise Current 頻率-雜訊電流圖
| 光強線性度檢查與分析 | 可選雷射模組系統波長 | 頻率回應檢查與分析 |
| TPC/TPV 檢查與分析 | 雷射光調變控制 | 截止頻率 (Cut Frequency) 計算分析 |
| Rise/ Fall time檢查與分析 | 高動態光強變化光學調變模組，可自動調變強度6個數量級 | 頻率回應檢查 0~40MHz |
本系統針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進行光電轉換過程的回應行為檢查與分析。
利用一單色 (單波長) 的光源，對其進行連續脈衝或是週期性的光強調製後，照射到光電器件產生光生電流或是光生電壓訊號，並對此進行頻域或時域的檢測與分析，得到光電器件光電轉換過程的重要參數。
包含頻率回應、爬升/下降時間、LDR線型動態範圍、瞬態光電壓 (TPV) 、瞬態光電流 (TPC) 等光電轉換能力評價參數。
用以瞭解光電器件內部結構與載流子動力學、內部材料組成、器件結構與載流子動力學之關係。作為光電器件特性評價與性能改進的參考。
| 應用領域 | |
|---|---|
|
|
|
|
| 項目 | |
| Rise time / Fall time 測試 | 頻率響應測量 |
| 光強線性度測試(6量級) | Frequency-Noise Current 頻率-雜訊電流圖 |
| 設備規格 | |
|---|---|
| 頻域響應特徵測量模組 | 雷射模組系統波長可選配 (405nm, 520nm, 633nm, 940nm)
|
光電流訊號擷取裝置
|
|
| C-IPC控制器 | 工業電腦( 含螢幕、鍵盤滑鼠) |
在全新的軟體平臺SW-XQE上，具有便捷的擴展性：可測試標準EQE外，更可整合多種SMU的控制，並檢測IV曲線。同時具備各種分析功能，如D*、NEP、頻率雜訊圖。
| 測量軟體功能 | 雷射光調變控制 |
|---|---|
| 頻率響應測量與分析 | |
| 截止頻率(Cut Frequency)計算分析
Rise/ Fall time測量與分析 |
|
| Dark IV量測, J0分析 |
| 可選配 | 選配內容 |
|---|---|
| 高動態光強變化光學調變模組 |
(擇一選配，才可與高精度電壓源電流源傅立葉轉換(FFT)量測模組進行光強線性檢測) |
| 高精度電壓源電流源
傅立葉轉換(FFT)量測模組 |
|
| 載台 | XYZ軸位移平台 |
| 遮罩暗箱 | 防雜光遮罩暗箱 |
| 機櫃 | 一體式雙層機櫃 |
| 可調制雷射 |
|
| 可偏壓裝置模組 |
若需要測偏壓下的頻率響應(-3dB)量測，建議升級加選此選配 |
2021年 Advanced Materials 期刊報導了第一種無機陽離子擬鹵化物二維相鈣鈦礦單晶Cs2Pb(SCN)2Br2。
作者使用PD-RS系統對單晶光電器件進行多種的光電轉換回應行為進行檢查與分析。其中包含：
PD-RS 系統具備高速調製能力的雷射器 (爬升/下降時間< 5ns)，在恆定光強脈衝光條件下，
可以對器件進行光電流時間回應測試，並且分析光電器件的爬升/下降時間的分析，
以瞭解光電器件最快的時間回應極限特徵。
PD-RS 具備 120 dB 光強動態範圍測試能力。在軟體自動化的測試光電流的變化，繪製出待測器件的線性動態範圍響應圖 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 試評估光電器件特性的一項重要指標。由光電流與光強的測試可以得到回應度 (mA/W) 變化，是常用於表徵光電器件優劣的參數。
PD-RS 具備高速調製能力的雷射器。
系統可自動調變輸出光束的調製頻率，並進行光電流的偵測，同時繪製頻率回應圖並分析-3 dB 頻率特性。
-3 dB 點指的是當光源調製頻率上升，器件回應跟不上光源的開關變化，出現回應光電流隨之下降的情況，達到 -3 dB 的強度時，作為標記性能的頻率。
TPC/TPV 是一種常用於薄膜光電器件的檢查技術，可以研究器件中的載流子傳輸與複合的物理行為。
PD-RS 的光源具備高速的爬升與下降時間 (< 5 ns)，可以進行瞬態光電流 (TPC) 與瞬態光電壓 (TPV) 的測試。
